在掃描電鏡中，電子束與樣品交互可能會導致輻射損傷，特別是對于生物樣品或熱敏感材料。以下是一些常見的樣品保護措施和減輕輻射損傷的方法：

低電子束能量： 降低電子束的能量可以減小樣品受到的輻射損傷。較低的電子能量通常會導致較少的電子穿透樣品，減小對樣品的破壞。

低電子束電流： 減小電子束的電流可以降低輻射損傷的風險。使用更低的電子束電流可以減小樣品上的電子密度，減少樣品的輻射敏感性。

冷凍樣品： 對于生物樣品，可以將樣品冷凍以減緩輻射損傷的速度。低溫可以減少電子束的熱效應，有助于保護樣品的生物結構。

使用導電性涂層： 在樣品表面涂覆薄導電涂層，如金或碳，有助于減小電子束的透射和反射，從而減小電子束的損傷效應。

降低像增益： 在獲取圖像時，降低像增益可以減小輻射損傷的程度。盡管這可能導致圖像質量降低，但可以減小對樣品的損害。

快速成像： 盡量減小每個像素的曝光時間，以減少樣品受到的電子束暴露時間，從而降低輻射損傷的風險。

使用低真空模式： 在SEM中，可以使用低真空模式來減小電子束與樣品之間的相互作用，從而降低輻射損傷。

樣品旋轉： 對于均勻掃描，可以使樣品持續旋轉，以分散電子束的能量，減小輻射損傷的程度。

光子相干輔助成像： 一些先進的SEM系統結合了光子相干輔助成像技術，通過使用可見光來輔助成像，減小了電子束對樣品的傷害。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡中的輻射損傷和樣品保護措施。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢