掃描電鏡中的電子束與樣品相互作用可能導致多種影響和損傷，這取決于電子束的能量、強度和樣品的性質。以下是一些可能出現的影響和損傷：

電子束散射和吸收： 電子束在與樣品相互作用時可能會發生散射和吸收。這些過程可以導致成像中的對比度變化，尤其是在厚樣品中。

樣品加熱： 電子束的能量會被樣品吸收，導致樣品升溫。這對于熱敏感樣品來說可能是一個問題，因為高溫可以引發樣品的結構變化或破壞。

表面電荷： 電子束可以引起樣品表面的電子排列變化，導致表面電荷的積累。這可能影響成像的對比度，并導致圖像中的偽影。

輻射損傷： 高能電子束可以損傷樣品的結構，尤其是有機材料。這種損傷包括斷鍵、氧化和結構退化。

充電和電子漂移： 電子束對樣品的電荷引起充電效應，可能導致樣品的電子漂移，影響成像的穩定性。

離子化和排出氣體： 在高能電子束作用下，樣品可能會發生氣體解吸和離子化，導致真空系統內的氣體排放，影響成像和分析。

偽影和偽結構： 樣品的電子束散射和吸收可能會產生偽影和偽結構，影響成像的解析度和準確性。

樣品漂移： 電子束可以引起樣品的微小位移，尤其是對于不穩定的樣品來說，這可能導致圖像模糊或失真。

ZEM20臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡中的電子束對樣品有哪些影響和損傷。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢