掃描電鏡樣品位置怎么找
日期:2026-01-12
在掃描電鏡里找樣品位置,一般按由粗到細(xì)的思路來(lái)操作,會(huì)快很多,也不容易撞樣。
先用低倍、低放大。把放大倍數(shù)降低,視場(chǎng)變大,這一步主要是“找得到”,不追求清晰。若是完全看不到樣品,可以先確認(rèn)樣品是否真的在電子束可達(dá)范圍內(nèi),比如是否裝偏、裝反或高度過(guò)低。
再用樣品臺(tái)移動(dòng)定位。通過(guò) X、Y 方向慢慢移動(dòng)樣品臺(tái),優(yōu)先找明顯結(jié)構(gòu),比如邊緣、孔、臺(tái)階或污染點(diǎn),這些在低倍下容易識(shí)別。不要一上來(lái)就高倍,否則很容易迷路。
調(diào)整工作距離和 Z 高度。如果畫(huà)面一片灰或完全發(fā)虛,可能樣品高度不合適。先調(diào) Z 讓樣品進(jìn)入合適的工作距離范圍,再重新對(duì)焦,通常能立刻看到結(jié)構(gòu)輪廓。
利用二次電子信號(hào)。找位置階段優(yōu)先用二次電子像,對(duì)形貌敏感,邊緣對(duì)比明顯,比背散射更容易定位。
逐步放大而不是跳放大。找到目標(biāo)區(qū)域后,放大倍率要一步一步加,每放大一次就微調(diào)焦距和像散校正,避免一口氣放到很高倍導(dǎo)致目標(biāo)跑出視野。
必要時(shí)重新回零。如果完全找不到,可以把樣品臺(tái)回到機(jī)械零位或記錄過(guò)的位置,從已知參考點(diǎn)重新開(kāi)始,比盲目移動(dòng)效率高。
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作者:澤攸科技
