臺式掃描電鏡的樣本大小和類型的限制
日期：2023-11-02
臺式掃描電鏡（SEM）通常有一些樣本大小和類型的限制，雖然這些限制因不同型號和制造商而異，但以下是一些一般性的考慮：
樣本大小：臺式掃描電鏡通常適用于較小的樣品。典型的樣品大小范圍可能從亞微米級別到幾毫米。如果樣品過大，可能需要特殊的支架或減小樣品尺寸以適應SEM的舞臺。
導電性：臺式掃描電鏡需要樣品具有一定的導電性，以便有效地排除電子束的電荷，并產(chǎn)生高質(zhì)量的成像。非導電性樣品可能需要涂覆導電性材料，如金屬或碳，以進行觀察。
真空要求： 操作需要在真空或減壓環(huán)境中進行，因此某些樣品可能需要在SEM室內(nèi)進行處理。此外，樣品須耐受真空環(huán)境。
干燥和準備： 濕潤或多孔的樣品可能需要事先干燥和準備，以確保在SEM中獲得清晰的圖像。此外，一些樣品需要特殊的固定或包埋處理。
透射樣品： 通常用于表面成像，而非透射成像。這意味著只能觀察樣品表面，不能看透或穿透樣品。
樣品形狀： 通常適合于堅固和平坦的樣品，不適用于液體或氣體樣品。某些特殊夾具可以用于觀察柔軟或非平坦的樣品。
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作者：澤攸科技