掃描電鏡SEM可以用來觀察和分析各種材料的表面形貌和微結構。那么掃描電鏡可以分析什么呢？

表面形貌：SEM能夠以高分辨率觀察物體表面的形貌，包括粗糙度、表面紋理、表面形態等。

成分分析：SEM可以通過能譜儀（EDS）或電子能量捕獲器（EBSD）等技術來分析樣品的元素組成及其分布情況。

晶體結構：SEM可以觀察樣品的晶體結構，包括晶體的形態、大小、晶面、晶界等。

斷口形貌：SEM可以觀察和分析斷口形貌，包括斷口的形態、大小、裂紋等。

表面化學性質：SEM可以通過熒光探針和熒光光譜儀等技術，觀察和分析樣品表面的化學性質。

磁性性質：SEM還可以觀察和分析樣品的磁性性質，包括磁疇、磁性相等。

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機

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