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TEM原位解決方案每一部工程作品都精雕細琢

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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。價格請咨詢18817557412(微信同號)

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產品介紹

透射電子顯微鏡TEM-STM量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。在進行原位操縱的同時利用投射電鏡及相關附件實時動態地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，很大地擴展了透射電子顯微鏡的功能和應用領域。

原位STM-TEM電學測量系統技術參數

原位STM-TEM電學測量系統指標展示

透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統應用

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