掃描電鏡圖像整體發(fā)亮，通常不是樣品本身的問題，而是成像參數(shù)或樣品狀態(tài)不匹配導(dǎo)致信號過強(qiáng)。

常見的原因是電子束條件過高。加速電壓過大或束流設(shè)定偏高，會產(chǎn)生過多二次電子，探測器接收到的信號超出正常范圍，畫面就會顯得一片發(fā)白。這種情況在低原子序數(shù)或表面起伏較大的樣品上尤為明顯。

第二個常見原因是對比度或亮度設(shè)置過高。SEM 中亮度和對比度如果調(diào)得不合理，會把灰階壓到高端，即使原始信號正常，圖像也會顯得過亮、細(xì)節(jié)丟失。

第三是樣品充電效應(yīng)。非導(dǎo)電或?qū)щ姴涣嫉臉悠吩趻呙柽^程中積累電荷，會造成局部信號異常增強(qiáng)，表現(xiàn)為發(fā)亮、發(fā)白，甚至伴隨閃爍和拖影。

另外，工作距離過短或探測器位置不合適，也可能使二次電子收集效率過高，從而抬高整體亮度。