掃描電鏡（SEM）對(duì)同一樣品在不同時(shí)間拍攝出現(xiàn)圖像差異是正常的現(xiàn)象，特別是在高分辨率或高放大倍率下。這種差異通常是由以下幾類原因造成的：

一、樣品自身變化

表面污染或吸附

樣品長時(shí)間暴露在空氣中后，可能吸附水分、油污或塵埃；

特別是非導(dǎo)電樣品，容易在空氣中積聚靜電或污染層，影響成像。

樣品帶電狀態(tài)不同

非導(dǎo)電樣品在前后兩次成像過程中帶電程度可能不同，導(dǎo)致亮度變化、圖像漂移或模糊。

樣品被電子束損傷

某些材料在首次成像時(shí)就已被損傷；

再次成像時(shí)結(jié)構(gòu)已發(fā)生微小變化，表現(xiàn)為圖像細(xì)節(jié)不同。

二、設(shè)備參數(shù)設(shè)置不同

工作距離（WD）、加速電壓、束流電流不同

這會(huì)直接影響圖像的分辨率、對(duì)比度和景深；

比如高電壓下圖像更銳利，但穿透深，低電壓時(shí)表面細(xì)節(jié)更明顯但容易模糊。

焦距調(diào)整不一致

如果沒有完全對(duì)準(zhǔn)焦點(diǎn)，成像質(zhì)量自然不同；

不同時(shí)間操作員或設(shè)置不同也會(huì)帶來誤差。

放大倍率差異

即使是同一區(qū)域，不同放大倍數(shù)下對(duì)比、視角、邊緣銳度都會(huì)不同。

三、儀器狀態(tài)變化

系統(tǒng)真空度不同

真空波動(dòng)會(huì)影響電子束穩(wěn)定性，進(jìn)而影響圖像質(zhì)量。

鏡筒污染或電子槍老化

鏡筒污染或電子源性能退化也會(huì)使圖像亮度、清晰度下降。

樣品臺(tái)位置或傾角微變

可能在重新放置樣品或二次加載過程中角度稍變；

即使位置一樣，觀察角度不同也會(huì)引起細(xì)節(jié)偏差。

四、操作習(xí)慣和視圖設(shè)定差異

視圖參數(shù)（亮度/對(duì)比度/伽馬值）不同

圖像保存方式不同（原始圖/增強(qiáng)圖）

不同操作員對(duì)焦方式不同