在掃描電鏡（SEM）中，調(diào)整襯度（Contrast）和亮度（Brightness）對(duì)于增強(qiáng)樣品的細(xì)節(jié)非常重要，尤其是在觀察低對(duì)比度或高動(dòng)態(tài)范圍的樣品時(shí)。調(diào)整的方法如下：

1. 了解襯度與亮度的作用

亮度（Brightness）：控制整體圖像的平均灰度值，相當(dāng)于調(diào)整曝光量，使圖像變亮或變暗。

襯度（Contrast）：調(diào)整圖像的灰度范圍，使明暗區(qū)域的區(qū)分更加明顯，增強(qiáng)細(xì)節(jié)。

2. 通過(guò) SEM 的軟件界面調(diào)整

手動(dòng)調(diào)整：在 SEM 控制軟件中，通常有 Brightness 和 Contrast 的滑動(dòng)條或數(shù)值調(diào)整選項(xiàng)，可以手動(dòng)調(diào)節(jié)。

自動(dòng)優(yōu)化：

許多現(xiàn)代 SEM 具備**自動(dòng)亮度和對(duì)比度（Auto Brightness/Contrast）**功能，建議作為初步調(diào)整的方法。

適用于快速優(yōu)化，但可能不適用于所有樣品。

3. 調(diào)整亮度和襯度的方法

從默認(rèn)設(shè)置開(kāi)始：避免直接調(diào)整到極端值，以免丟失細(xì)節(jié)。

增大襯度可增強(qiáng)細(xì)節(jié)，但避免過(guò)度：

適用于低對(duì)比度樣品（如生物樣品、聚合物）。

過(guò)高的襯度會(huì)導(dǎo)致灰度過(guò)渡變得過(guò)于劇烈，丟失部分信息。

降低亮度可減少背景噪聲：

亮度過(guò)高可能導(dǎo)致過(guò)曝光，使某些區(qū)域的細(xì)節(jié)丟失。

適當(dāng)降低亮度可以增強(qiáng)暗部細(xì)節(jié)，但過(guò)低可能導(dǎo)致圖像偏暗，影響可視性。

4. 結(jié)合其他 SEM 參數(shù)優(yōu)化

調(diào)整探測(cè)器類(lèi)型：

SE（二次電子）探測(cè)器：適用于觀察表面形貌，通常需要較高的襯度。

BSE（背散射電子）探測(cè)器：適用于成分對(duì)比，通常調(diào)整較低的襯度以避免信號(hào)過(guò)強(qiáng)。

降低束流電流（Beam Current）：

高束流可能導(dǎo)致圖像飽和，適當(dāng)降低可減少信號(hào)過(guò)強(qiáng)的情況。

調(diào)整工作距離（WD, Working Distance）：

增加 WD 可能會(huì)影響信號(hào)的強(qiáng)度，需要相應(yīng)調(diào)整亮度和對(duì)比度。

5. 觀察不同區(qū)域并調(diào)整

動(dòng)態(tài)調(diào)整：在觀察不同樣品區(qū)域時(shí)，可能需要重新調(diào)整亮度和襯度。

避免過(guò)度調(diào)整：過(guò)高的襯度可能導(dǎo)致偽影或噪聲增強(qiáng)，而過(guò)低的襯度可能使細(xì)節(jié)丟失。

以上就是澤攸科技小編分享的如何在掃描電鏡中調(diào)整襯度和亮度以增強(qiáng)細(xì)節(jié)。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢(xún)