掃描電鏡和透射電鏡是兩種常用的電子顯微鏡，它們在工作原理、成像模式、樣品制備和應用領域等方面存在一些不同。

工作原理：掃描電鏡通過聚焦電子束掃描樣品表面，從而獲得樣品表面的形貌信息。透射電鏡則通過聚焦電子束穿過樣品薄片，獲得樣品內部結構的信息。

成像模式：掃描電鏡成像模式包括二次電子成像和反射電子成像，能夠獲得樣品表面形貌、組成和結構信息。透射電鏡成像模式包括透射成像和衍射成像，能夠獲得樣品內部結構的信息。

樣品制備：掃描電鏡的樣品制備通常是將樣品表面進行金屬鍍膜或者碳膜處理，以增加樣品導電性；透射電鏡的樣品制備需要將樣品切成非常薄的薄片，通常在納米或亞納米級別。

應用領域：掃描電鏡主要應用于材料學、生物學、地質學等領域，例如納米材料形貌、微觀結構、表面形貌、病毒等。透射電鏡則主要應用于材料學、化學、生物學等領域，例如金屬晶體結構、電子衍射、細胞超微結構等。

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機

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