掃描電鏡（SEM）對(duì)磁性樣品的掃描需要注意一些特殊的問(wèn)題。下面是對(duì)于磁性樣品掃描的幾點(diǎn)建議：

準(zhǔn)備磁性樣品時(shí)應(yīng)盡量避免使用磁性工具，避免對(duì)樣品磁性的影響。

在掃描前，應(yīng)使用磁場(chǎng)消磁器對(duì)磁性樣品進(jìn)行去磁處理，以降低樣品表面的磁性干擾信號(hào)。需要注意的是，消磁強(qiáng)度應(yīng)根據(jù)樣品的不同磁性特性來(lái)調(diào)整。

在掃描過(guò)程中，應(yīng)選擇適當(dāng)?shù)募铀匐妷汉吞綔y(cè)器，并減少樣品燒傷和電荷積累現(xiàn)象。

SEM掃描磁性樣品時(shí)，電子束的熱效應(yīng)可能會(huì)導(dǎo)致樣品表面的磁性變化。為了避免這種影響，應(yīng)使用低電流密度的電子束，同時(shí)控制掃描時(shí)間，盡可能縮短掃描時(shí)間。

為了保護(hù)掃描電鏡的零件不受磁化，應(yīng)在樣品掃描過(guò)程中使用非磁性的夾具和支撐物。

掃描磁性樣品時(shí)需要注意的主要問(wèn)題是消除磁性干擾信號(hào)和減少樣品表面燒傷、電荷積累等影響，同時(shí)保護(hù)掃描電鏡不受磁化影響。

ZEM15原位拉伸-掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編對(duì)磁性樣品掃描注意事項(xiàng)的介紹。更多掃描電鏡信息及價(jià)格請(qǐng)咨詢