掃描電鏡（SEM）可以提供高倍率的放大能力，其放大倍數通常在幾百倍到數十萬倍之間。實際的放大倍數取決于具體的SEM系統、樣品制備和檢測條件。

常見的SEM系統通常具有以下放大倍數范圍：

低放大倍數：通常從幾十倍到幾百倍，用于觀察樣品的整體形貌、表面結構和粗糙度。

中等放大倍數：通常從幾百倍到幾千倍，用于更詳細地觀察樣品表面細節、微觀結構和顆粒分布。

高放大倍數：通常從幾千倍到數萬倍，用于觀察樣品的納米結構、納米顆粒、微觀組織和斷面等。

需要注意的是，高倍率放大可能需要更高的電子束能量和更精細的樣品制備，以獲得清晰、高對比度的圖像。同時，放大倍數也取決于樣品的大小、形狀和表面特征。

值得一提的是，某些特殊類型的掃描電鏡，如透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）和場發射掃描電鏡（Field-Emission Scanning Electron Microscope，FE-SEM），具有更高的分辨率和更大的放大倍數能力，可以達到數十萬倍甚至百萬倍的放大倍數。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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