掃描電鏡是一種非常強(qiáng)大的顯微鏡，可以觀(guān)察樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)。以下是掃描電鏡觀(guān)察樣品的一般步驟：

準(zhǔn)備樣品：選擇合適的樣品，進(jìn)行制備和處理。不同樣品需要不同的處理方法，例如去除表面氧化層、導(dǎo)電涂層或制備合適的切片等。

定位樣品：將樣品放置在掃描電鏡樣品臺(tái)上，調(diào)整樣品的位置、角度和焦距，以便于觀(guān)察。

設(shè)置參數(shù)：根據(jù)樣品類(lèi)型和觀(guān)察目的，設(shè)置掃描電鏡的參數(shù)，包括加速電壓、電流、探針尺寸和掃描速度等。

掃描觀(guān)察：通過(guò)掃描電鏡的電子束掃描樣品表面，探測(cè)樣品表面反射的電子信號(hào)，并通過(guò)計(jì)算機(jī)處理后形成圖像。可以使用不同的掃描模式觀(guān)察樣品，例如二次電子成像（SEI）和反射電子成像（BSE）等。

分析結(jié)果：通過(guò)掃描電鏡獲取的圖像可以進(jìn)行各種形貌和結(jié)構(gòu)分析，例如粒徑分布、表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分分析等。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

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