如何在掃描電鏡中選擇適當(dāng)?shù)募铀匐妷?/a>

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-10

掃描電鏡中如何使用背散射電子增強(qiáng)樣品對比度

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，背散射電子（BSE）可以用于增強(qiáng)樣品的對比度，尤其是對不同原子序數(shù)的材料區(qū)分更為顯著。

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-09

如何在掃描電鏡中進(jìn)行大面積樣品的自動(dòng)化掃描

在掃描電鏡（SEM）?中進(jìn)行大面積樣品的自動(dòng)化掃描通常需要以下步驟和技術(shù)：

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-09

如何通過調(diào)節(jié)加速電壓優(yōu)化掃描電鏡中的深度分辨率

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，加速電壓對電子束的穿透深度和樣品的表面和深度信息分辨率有顯著影響。

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-06

掃描電鏡的聚焦電流如何影響分辨率和圖像清晰度

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，聚焦電流（或稱束流強(qiáng)度）對分辨率和圖像清晰度有著重要影響。

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-06

掃描電鏡中的圖像偽影如何通過優(yōu)化成像參數(shù)進(jìn)行消除

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，圖像偽影（artifacts）可能會(huì)影響圖像的質(zhì)量和分析的準(zhǔn)確性。

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-05

掃描電鏡的二次電子探測器如何影響圖像對比度

在掃描電子顯微鏡 (SEM) ?中，二次電子探測器 (Secondary Electron Detector, SE Detector) 是生成圖像的主要設(shè)備之一，它通過探測從樣品表面發(fā)射出的二次電子 (Secondary Electrons, SE) 來構(gòu)建圖像。

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-05

相約深圳丨澤攸科技誠邀您參加CIOE2024中國光博會(huì)

2024年9月11-13日，第二十五屆中國國際光電博覽會(huì)（CIOE中國光博會(huì)）將在深圳國際會(huì)展中心舉辦，澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器及新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案亮相6D91、6D92展位，我們期待著與各位新老朋友們見面，也希望通過此次機(jī)會(huì)與業(yè)內(nèi)同仁、專家們共同交流探討、共商合作、互利發(fā)展。

MORE INFO → 公司新聞 2024-09-04